Lichtmesstechnik für ein exzellentes XR-Erlebnis
München, 10.12.2024 (PresseBox) - Instrument Systems zeigt auf den Messen SPIE AR|VR|MR 2025 und Photonics West 2025 sein umfassendes Portfolio an High-End-Messgeräten zur optischen Qualitätssicherung von AR/VR/MR-Devices entlang der gesamten Produktionskette – von optischen Modulen bis zum fertigen Headset.
Instrument Systems präsentiert auf der SPIE AR|VR|MR 2025 und Photonics West 2025 in San Francisco seine High-End-Messgeräte zur optischen Qualitätssicherung von AR/VR/MR-Geräten entlang der gesamten Produktionskette.
Auf der SPIE AR|VR|MR wird an Stand # 6302 die neue LumiTop 5300 AR/VR vorgestellt. Diese 2D Leuchtdichte- und Farbmesskamera mit 24 MP Auflösung und geradem Objektiv eignet sich besonders für Tests von AR/VR/MR-Displaymodulen vor dem Einbau ins Headset. Sie ergänzt die bewährte LumiTop 4000 AR/VR mit Periskop-Objektiv.
Ebenfalls neu ist die TOP 300 AR/VR, eine Einkoppeloptik für die einfache und schnelle Qualitätsprüfung von Headset-Modulen auf Leuchtdichte und Farbe in Produktion und Entwicklung. Sie simuliert das menschliche Auge und wird direkt an ein Spektralradiometer der CAS-Serie angeschlossen.
Gezeigt wird außerdem die LumiTop X150, eine ultra-hochauflösende Leuchtdichte- und Farbmesskamera, die für die Qualitätskontrolle von OLED- und MicroLED-Displays auf Pixelebene entwickelt wurde.
An Stand # 4205-17 (German Pavillon) auf der Photonics West zeigt das Unternehmen eine Auswahl seiner High-End Messlösungen für 2D-Messungen im Wellenlängenbereich von UV bis IR.
SPIE AR|VR|MR 2025, Stand 6302
28. – 29. Januar 2025, San Francisco, USA
SPIE Photonics West 2025, Stand 4205-17 (German Pavillon)
28. – 30. Januar 2025, San Francisco, USA
