NH Instruments: Neue Leitlinien zur Vermeidung von Fehlern bei der Leitfähigkeitsmessung
Fehlerfreie Materialanalyse als Basis für Innovationen in Batterie-, Halbleiter- und Kunststofftechnologien
Willich, 23.09.2025 (PresseBox) - Präzise Materialanalyse ist heute ein entscheidender Erfolgsfaktor für Forschung, Entwicklung und Produktion in der Halbleiter-, Batterie- und Kunststoffindustrie. Mit einer neuen Fachinformation zeigt NH Instruments, wie Unternehmen die Qualität ihrer Messdaten verbessern und typische Fehler bei der Leitfähigkeitsmessung vermeiden können.
„Schon kleinste Abweichungen bei der Messung elektrischer Leitfähigkeit können weitreichende Folgen haben – von fehlerhaften Entwicklungsprojekten bis hin zu teuren Produktionsverzögerungen“, erklärt Jens Holz, Vertriebleiter NH Instruments. „Mit unserer Expertise und modernen Messtechnik unterstützen wir Unternehmen dabei, zuverlässige Daten und reproduzierbare Ergebnisse sicherzustellen.“
Häufige Fehlerquellen in der Leitfähigkeitsmessung
Die Fachinformation beschreibt typische Herausforderungen in der Praxis, darunter:
- Kontaktwiderstand durch unzureichende Sondenkontakte
- Unzureichende Probenpräparation bei Schichtdicken und Oberflächen
- Temperaturabhängigkeit der Leitfähigkeit
- Falsche Wahl der Messmethode (2-Punkt- vs. 4-Punkt-Messung)
- Fehlende Kalibrierung und Wartung der Geräte
NH Instruments empfiehlt Maßnahmen wie die Nutzung moderner Guard-Systeme, standardisierte Probenvorbereitung, Temperaturkontrolle, die passende Auswahl von Messgeräten sowie regelmäßige Kalibrierung und Schulungen.
„Unsere Systeme wie das Hiresta-UX, Loresta-FX und das PD-600 setzen neue Standards in Präzision und Benutzerfreundlichkeit“, betont Jens Holz. „Damit liefern wir nicht nur Messtechnik, sondern helfen unseren Kunden, ihre Prozesse effizienter und nachhaltiger zu gestalten.“
