Große Expertise zu kleinen Partikeln - Expertentage zur Partikelcharakterisierung bei LUM France
Berlin/Plaisir, 22.05.2025 (PresseBox) - Am 24. und 25. Juni veranstalten LUM France und LUM GmbH die Expertentage zur Partikelcharakterisierung am Sitz von LUM France in Plaisir (Paris). Kunden aus Frankreich sind herzlich eingeladen sich theoretisch zu den Messgeräten der LUM GmbH weiterzubilden und sich von den Vorteilen anhand der Messung eigener Proben zu überzeugen. Den Schwerpunkt bildet diesmal der LUMiSpoc®.
Der LUMiSpoc® ist ein hochentwickeltes Einzelpartikel-Analysesystem, ähnlich einem Durchflusszytometer, das die Partikelgrößenverteilung und Partikelkonzentration von Nano- und Mikropartikeln in Suspensionen und Emulsionen mit einer beispiellosen Auflösung und einem beispiellosen Dynamikbereich misst. Das Instrument verwendet die patentierte SPLS-Technologie®, eine Technologie, die Licht aufzeichnet, das von einzelnen Nano- und Mikropartikeln in Vorwärts- und Seitwärtsrichtung gestreut wird, während ein Laserstrahl mit einem speziellen Strahlquerschnitt durchgelassen wird. Es ermöglicht einen tiefen Einblick in komplexe Nano- und Submikropartikelsysteme, mit denen maßgeschneiderte Partikel und Dispersionen entworfen werden können.
Vor Ort referieren die Experten Elia Wollik und Sylvain Gressier. Elia Wollik ist Senior Product Specialist bei der LUM GmbH, spezialisiert auf Nanopartikelanalyse und optische Messtechniken. Seine Arbeitsschwerpunkte sind die Weiterentwicklung und Optimierung analytischer Instrumente, die Identifizierung neuer Anwendungsgebiete und die Unterstützung von Forschungs- und Entwicklungskooperationen sowie kundenspezifischer Probenanalysen. Er war maßgeblich an der Entwicklung und Markteinführung des LUMiSpoc® beteiligt. Elia Wollik hat einen Master-Abschluss in Pharmazeutischer und Chemischer Technologie mit den Schwerpunkten Partikelanalyse und Lichtstreuung.
Sylvain Gressier, Absolvent der Universität Evry Val d'Essonne in Humangenetik, anschließend Außendienstmitarbeiter und seit langem Manager der französischen Tochtergesellschaft der LUM GmbH, verfügt über 13 Jahre beispiellose praktische und theoretische Erfahrung in Frankreich im Einsatz von LUM-Messgeräten zur Mikro- und Nanopartikelcharakterisierung, für direkte beschleunigte Stabilitätstests von Dispersionen und Emulsionen sowie zu Materialprüfungen. Durch die Zusammenarbeit mit Industrieunternehmen und die Teilnahme an internationalen wissenschaftlichen und akademischen Symposien und Konferenzen bringt er die Bedürfnisse der Anwender mit den aktuellen und zukünftigen technischen und kommerziellen Lösungen von LUM in Einklang. Zum 14. Weltfiltrationskongress (WFC 14) in Bordeaux vom 30. Juni bis 4. Juli referiert Sylvain Gressier dann zum Thema: Filtration efficiency monitored by particle counting and sizing using Single Particle Light-Scattering Technology® (SPLS).
