Messtechnik in Position gebracht

(pressebox) Waldbronn, 28.05.2015 - Erst das richtige Zubehör erschließt das gesamte Potential eines Messgerätes und sorgt für höchste Produktivität im Labor. Gleich mit einer kompletten Zubehörfamilie erweitert Polytec nun seine Mikroskop-basierten Messsysteme zur Messung statischer und dynamischer Eigenschaften von Mikrosystemen und für die Oberflächenmesstechnik.

Aktiv schwingungsgedämpfte Tische mit Portal zur Aufnahme des Messkopfes bieten eine professionelle Arbeitsumgebung und sorgen mit automatisierten

Positionierungsmöglichkeiten für einen optimalen Ablauf der Messung.

Egal ob ultrahochfrequente Schwingungsmessungen an SAW-Bausteinen, 3D-Bewegungsanalysen an Mikrosystemen oder Rauheitsmessungen an Funktionsoberflächen auf dem Programm stehen, die neue Zubehörfamilie macht die Lösung der Messaufgabe jetzt noch einfacher.

Weitere Informationen finden Sie unter: http://www.polytec.com/de/produkte/schwingungsmesssysteme/mikroskop-systeme/