Ein Blick hinter die Technologie
Ereignisgesteuerte WIP-Erfassung für die Halbleiterfertigung
Mistelgau, 28.07.2026 (PresseBox) - In der Halbleiterindustrie sind transparente Materialflüsse und eine kontinuierlich aktuelle Bestandsübersicht entscheidende Voraussetzungen für effiziente Produktionsprozesse. Gerade bei WIP-Materialien (Work in Progress), Wafer-Behältern und FOUPs ist eine zuverlässige und automatisierte Erfassung entlang des Materialflusses von zentraler Bedeutung.
Die HERMOS RFID-WIP-Regallösungen setzen dabei auf eine ereignisgesteuerte Datenerfassung. Ein integrierter optischer Sensor erkennt Veränderungen an den einzelnen Stellplätzen und aktiviert die RFID-Erfassung nur dann, wenn tatsächlich eine Belegung oder Entnahme stattfindet.
Dadurch entfällt die Notwendigkeit eines manuellen oder permanenten automatisierten Scanbetriebs. Gleichzeitig werden unnötige Lesezyklen reduziert und die Funkaktivität im Produktionsumfeld auf das erforderliche Maß begrenzt.
Das Ergebnis ist eine bedarfsgerechte und kontinuierlich aktualisierte Erfassung von WIP-Materialien - eine wichtige Grundlage für transparente Materialbestände, automatisierte Materialflüsse und die weitere Digitalisierung von Produktionsprozessen in der Halbleiterindustrie.
Technische Highlights
- LF 134,2 kHz gemäß ISO 18000-2 oder HF 13,56 MHz gemäß ISO 15693
- Integrierter optischer Belegungssensor zur ereignisgesteuerten Aktivierung der RFID-Erfassung
- Kundenspezifisch konfigurierbar für unterschiedliche Behälter, Boxen und FOUPs
- Bis zu 40 RFID-ausgerüstete Stellplätze pro Regal
- Geeignet als Basistechnologie für AMR-Projekte und automatisierte Materialtransportsysteme
- Unterstützung des SECS/HSMS-Protokolls für die Integration in bestehende Automatisierungs- und Manufacturing-IT-Umgebungen
- Power over Ethernet (PoE) für eine effiziente Infrastruktur- und Systemintegration
