Zuverlässigkeit von Halbleitersystemen sichern: Über Analyse, Test und Fehlerdiagnostik von heterogenen Systemen

Berlin, 24.03.2026 (PresseBox) - Wie lassen sich komplexe Halbleitersysteme zuverlässig in die Anwendung bringen und welche Rolle spielt dabei die Qualitätssicherung? Im Gespräch erläutert Frank Altmann vom Fraunhofer IMWS, warum Charakterisierung, Test und Zuverlässigkeitsbewertung bereits in […] mehr