Untersuchung von kohlenstoffbasierten Nanopartikeln (aus Graphenschichten) mit dem JPK NanoWizard® ULTRA Speed Rasterkraftmikroskop an der Freien Universität Berlin

Berlin, 12.12.2017 (PresseBox) - JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den “Life Sciences“- und “Soft Matter“-Bereich, berichtet über den Einsatz des JPK NanoWizard® ULTRA Speed Rasterkraftmikroskops (engl. Atomic Force Microscope – AFM) in der Gruppe ...