Optische Prüfung von Wafern, Zellen, Modulen: Vinspec Solar Inspektionssysteme machen manuelle Nachprüfung überflüssig

(pressebox) Wiesbaden, 27.08.2012 - Um dem enormen Wettbewerbsdruck standzuhalten, zählen für Hersteller von Wafern, Zellen und Modulen maximale Produktqualität bei gleichzeitig höchster Effizienz in der Produktion. Hier kommt es darauf an, Prüfprozesse möglichst lückenlos zu automatisieren, um […] mehr