Lock-In-Thermografie für Elektronik- und Halbleitermodulprüfung

Dresden, 05.03.2025 (PresseBox) - Die Inspektion elektronischer Komponenten und Baugruppen mit Hilfe der Aktiv-Thermografie ist ein etabliertes Prüfverfahren zur Fehlersuche und Qualitätssicherung – von der Prototypen-Entwicklung bis hin zur Serienproduktion. Mit diesem äußerst empfindlichen […] mehr