Fraunhofer ENAS präsentiert in Japan ein optisches Monitoringsystem zur Qualitätskontrolle von Galvaniklösungen

Chemnitz, 22.09.2017 (PresseBox) - Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS zeigt auf der diesjährigen MEMS Sensing & Network System vom 4. bis 6. Oktober 2017 in Chiba, Japan, einen Demonstrator eines Monitoring-Systems für Galvaniklösungen. Das System basiert auf optischer ...