NanoFocus AG zieht positive Bilanz der Leitmesse Control 2015

(pressebox) Oberhausen, 20.05.2015 - Die Control, Internationale Fachmesse für Qualitätssicherung, war für die NanoFocus AG im Jahr 2015 erneut ein Erfolg. Als Neuheit präsentierte NanoFocus das 3D- Profilometer?scan select, ein neues Produkt auf Basis der bewährten?scan-Technologie. Weitere ...