(pressebox) Berlin, 25.11.2014 - JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, berichtet über den Einsatz von Rasterkraftmikroskopie (engl. AFM - Atomic Force Microscopy) und dem CellHesion® Modul für die ...