SPIE Photonics West 2018: Leistungsstarke Zelldiagnostik mit miniaturisierter Imaging-Plattform von Jenoptik

Jena, 23.01.2018 (PresseBox) - Mit "SYIONS" erweitert Jenoptik ihre umfassende Lösungskompetenz im Bereich Diagnostik und Analytik um eine kundenspezifisch konfigurierbare Plattform für die digitale Bilderfassung, -verarbeitung und -analyse. Premiere auf der SPIE BiOS und SPIE Photonics West in San Francisco.

Mit der modular aufgebauten und miniaturisierten Diagnostic Imaging-Plattform SYIONS präsentiert Jenoptik ihre neue Lösung, mit der schnell und effizient alle Arten von Bilddaten in Geräten der In-vitro- Diagnostik im wissenschaftlichen und klinischen Einsatz generiert werden können. Anwendungen in den Bereichen Live Cell Imaging, Durchflusszytometrie und molekulare Diagnostik lassen sich mit dem Jenoptik- Baukasten schnell und kostengünstig realisieren.

Die Plattform SYIONS vereint bewährte Jenoptik-Module wie LED-Beleuchtung, optische Elemente, hochauflösende Kamera und Autofokus als auch X/Y-Scanner, Elektronik und Software zu einer effizienten Imaging-Lösung, die dem Anwender höchste Bilddatenqualität sowie einfache Integration in die Software- Systemumgebung von medizinischen bzw. Laborgeräten bietet. Darüber hinaus können mit der Jenoptikeigenen, modularen Software u. a. Arbeitsabläufe mit verschiedenen Betriebssystemen einheitlich und effizient ausgeführt werden. Mithilfe der Jenoptik-Plattform SYIONS lassen sich zum Beispiel Untersuchungen von Zellen oder Gewebeproben schnell und zuverlässig automatisieren. Entsprechende Geräte werden kleiner bei gleichzeitig verbesserten Leistungsdaten und hoher Zuverlässigkeit. Diese lassen sich aufgrund der Standardisierung der einzelnen Module mit geringeren Stückzahlen kostengünstig realisieren.

Modulare Plattform für digitale Bilderfassung, -verarbeitung und -analyse

Wolfgang Keller, Leiter des Jenoptik-Bereichs Healthcare & Industry, fasst die Vorteile der neuen Imaging- Plattform zusammen: "SYIONS beinhaltet eine Vielzahl etablierter Jenoptik-Technologien, die wir zu einer maßgeschneiderten Komplettlösung kombinieren, individuell abgestimmt auf die Bedürfnisse unserer Kunden, deren Systemerfordernisse und Applikationswünsche. Dieses Komplettsystem ist wesentlich kleiner als handelsübliche Mikroskope und Imaging-Systeme. Es lässt sich dadurch einfach und schnell in bestehende und zu entwickelnde Laborinstrumente unserer Kunden integrieren. Bei SYIONS können unsere Kunden nicht nur auf die hohe Zuverlässigkeit und Stabilität der einzelnen Technologie-Bausteine vertrauen, sondern auch auf unsere langjährige Erfahrung in deren Herstellung und Zusammenspiel in bewährter Jenoptik-Qualität."

Jenoptik präsentiert eine erste Variante ihrer modularen Diagnostic Imaging-Plattform vom 27. Januar bis 1. Februar 2018 auf der SPIE BiOS, Moscone Center, Westhalle, Stand 8513, sowie auf der SPIE Photonics West, Moscone Center, Südhalle, Stand 1023, in San Francisco, USA.
Optische Technologien
[pressebox.de] · 23.01.2018 · 10:36 Uhr
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