Kombination des JPK NanoWizard® Rasterkraftmikroskops mit einer Vielzahl unterschiedlichster Fluoreszenzmikroskopie-Methoden an der Universität Oxford

(pressebox) Berlin, 26.11.2015 - JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, berichtet wie das NanoWizard® Rasterkraftmikroskop (engl. Atomic Force Microscope - AFM) am Weatherall Institute of Molecular Medicine ...