1. RF- und Wireless-Technologietag in Tönisvorst
(pressebox) München, 06.05.2015 - National Instruments (Nasdaq: NATI) trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. National Instruments und sein Platinum Alliance Partner NOFFZ Technologies veranstalten am 24. Juni 2015 in Tönisvorst bei Düsseldorf einen Technologietag zum Thema RF- und Wireless-Test
Die zunehmende Vernetzung von Geräten und Systemen legt die Messlatte für den Bereich RF-Test Jahr für Jahr ein Stück höher. Trends wie das Internet der Dinge (IoT) und Industrie 4.0 verlangen RF-Prüfmitteln mehr ab denn je. RF-Testsysteme müssen flexibel auf Änderungen reagieren, um beispielsweise die neuen Wireless-Standards der Prüflinge zu intergieren, dabei aber immer auch die Testzeiten minimieren und letztlich bessere Qualität für eine enorme Bandbreite an Anwendungen garantieren.
Gerade in Deutschland sind RF-Tests vor allem aus Anwendungen in der Automobilindustrie - wie eCall, Network Access Devices (NADs) und Telematics Control Units (TCUs) - sowie aus vielen weiteren Wireless-Schnittstellen, beispielsweise in Smart Homes und im Consumer-Bereich, nicht mehr wegzudenken.
Der RF- und Wireless-Technologietag bietet die Möglichkeit, sich über die neuesten Trends in den Bereichen RF Chip Testing, PXI-basierte Messgeräte, Adapterlösungen sowie standardisierte Komplettsysteme zu informieren. In parallel stattfindenden Workshops können die Teilnehmer zudem mehr über die Vorteile von RF-Messtechnik auf Basis der PXI-Plattform erfahren und sich anhand praxisorientierter Übungen mit der Handhabung vertraut machen. Eine begleitende Fachausstellung gewährt Einblicke in erfolgreich realisierte Projekte und die jeweils eingesetzten Technologien.
Themenschwerpunkte des Technologietags:
- Mobile Device Test
- Communication System Design
- RF Manufacturing Test
- Multi DUT RF Test für Cellular- und Connectivity-Applikationen
- Non-Signaling Chip Testing
Weitere Informationen sowie die ausführliche Agenda sind unter germany.ni.com/technologietag zu finden.
Die zunehmende Vernetzung von Geräten und Systemen legt die Messlatte für den Bereich RF-Test Jahr für Jahr ein Stück höher. Trends wie das Internet der Dinge (IoT) und Industrie 4.0 verlangen RF-Prüfmitteln mehr ab denn je. RF-Testsysteme müssen flexibel auf Änderungen reagieren, um beispielsweise die neuen Wireless-Standards der Prüflinge zu intergieren, dabei aber immer auch die Testzeiten minimieren und letztlich bessere Qualität für eine enorme Bandbreite an Anwendungen garantieren.
Gerade in Deutschland sind RF-Tests vor allem aus Anwendungen in der Automobilindustrie - wie eCall, Network Access Devices (NADs) und Telematics Control Units (TCUs) - sowie aus vielen weiteren Wireless-Schnittstellen, beispielsweise in Smart Homes und im Consumer-Bereich, nicht mehr wegzudenken.
Der RF- und Wireless-Technologietag bietet die Möglichkeit, sich über die neuesten Trends in den Bereichen RF Chip Testing, PXI-basierte Messgeräte, Adapterlösungen sowie standardisierte Komplettsysteme zu informieren. In parallel stattfindenden Workshops können die Teilnehmer zudem mehr über die Vorteile von RF-Messtechnik auf Basis der PXI-Plattform erfahren und sich anhand praxisorientierter Übungen mit der Handhabung vertraut machen. Eine begleitende Fachausstellung gewährt Einblicke in erfolgreich realisierte Projekte und die jeweils eingesetzten Technologien.
Themenschwerpunkte des Technologietags:
- Mobile Device Test
- Communication System Design
- RF Manufacturing Test
- Multi DUT RF Test für Cellular- und Connectivity-Applikationen
- Non-Signaling Chip Testing
Weitere Informationen sowie die ausführliche Agenda sind unter germany.ni.com/technologietag zu finden.
